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ST-21H型方塊電阻測試儀
更新時間：2020-05-21   點擊次數(shù)：776次
ST-21H型方塊電阻測試儀是一種依照類似的國家標準和美國A.S.T.M標準，專門測量半導體薄層電阻(表面電阻)的新型儀器，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜……等同類物質的薄層電阻。
    該儀器以大規(guī)模集成電路為主要核心；用基準電源和運算放大器組成高精度穩(wěn)流源；帶回路有效正常指示電路；并配以大型LCD顯示讀數(shù)，使儀器具有體積小、重量輕、外形美、易操作、測量速度快、精度高的特點。
 
◆ 特點：

1

 采用大規(guī)模集成電路作為儀器的主要部分，測量準確穩(wěn)定，低功耗；

2

 以大屏幕LCD顯示讀數(shù)，直觀清晰；

3

 采用單個電池供電，帶電池欠壓指示；

4

 體積≤175mm X90mm X42mm，重量≤300g；

5

 特制之手握式探筆，球形探針、鍍金探針有效接觸被測材料及保護薄膜

6

 探頭帶抗靜電模塊
 
◆ 技術指標：
 

測量范圍

 按方塊電阻量值大小分為二個量程檔：
  1.方塊電阻 1.0～1999.9Ω/□；
  2.方塊電阻 10～19999Ω/□；
 小分辨率：0.1Ω/□；

恒流源

 測量過程誤差：≤±0.8%

模數(shù)轉換器

 量程：0～199.99mv；
 分辨率：10μv；
 方式：LCD大屏幕顯示；極性，超量程均自動顯示；小數(shù)點同步顯示；

測量不確定度

 在整個量程范圍內，測量不確定度≤5%

四探針探頭規(guī)格

 間距：1mm、1.59mm、3.8mm；偏差≤2%；游移率≤0.3%；絕緣電阻≥500MΩ

電源

 9V疊層電池1節(jié)
 
◆ ST-21H方塊電阻測試儀可選配HP系列四探針探頭的型號及規(guī)格：

型號
(Model)

曲率半徑
(Radius)

壓力
(loads)

探針間距
(spacing)

探針排列
(Arrangement)

HP-501

0.5mm

100g

3.8mm

直線

HP-502

0.75mm

100g

3.8mm

直線

HP-503

0.1mm

150g

1mm

直線

HP-504

0.5mm

100g

1.59mm

直線

 
◆ ST-21H方塊電阻測試儀可選配SP-601型方型四探針探頭的型號及規(guī)格：

型號
(Model)

曲率半徑
(Radius)

壓力
(loads)

探針間距
(spacing)

探針排列
(Arrangement)

SP-601

0.5mm

100g

1.59mm

方形

深圳市偉峰儀器儀表有限公司

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